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검사장비

하이셈은 Wafer Test, Memory Test, System IC Test 등
다양한 전기적 특성 검사를 지원하기 위한
대표적인 장비들을 보유하고 있으며,
Laser Marking, Visual Inspection, Bake, Tape & Reel등의
장비를 보유하여 Backend 서비스까지 완벽하게 제공합니다.

Final Test

다양한 Package의 정확한 전기적 특성 검사를 진행하기 위한 Tester, Handler 장비들을 보유하고 있으며,
Test 진행에 필요한 Accessory (DSA Board, HIFIX Board, COK)의 신속하고 저렴한 공급을 지원하고 있습니다.

TESTER

TESTER
TEST PROCESS MAKER MODEL Specification SPEED DUTS(MAX) TARGET DEVICE
Memory TEST ADVANTEST T5503 1.6GHz 3.2Gbps 512 DDR3-SDRAM,GD-
DR3/4-SDRAM, etc.
T5588 400MHz 800Mbps 1024 DDR2,DDR3,FLASH
T5588S 400MHz 800Mbps 256 DDR2,DDR3,FLASH
T5593 250MHz 1.066Gbps 256 DDR,DDR2,GDDR3
T5585 250MHz 500Mbps 256 DDR2,DDR3
T5377 143MHz 286Mbps 256 DDR,FLASH
T5377S 143MHz 286Mbps 256 DDR,FLASH
NEXTEST MAGNUM SSV 100MHz 320 NAND FLASH
System IC TEST TERADYNE J750 50MHz 100Mbps Mixed Signal
SPANDNIX SX-3030 50MHz 16 PMIC, MDIC, AVIC,
LED Driver IC

HANDLER

HANDLER
MAKER MODEL MAX PARA TEMPERATURE
MIRAE M500 512 -40℃~125℃
M500H 512 -40℃~125℃
M510 512 -40℃~125℃
M420 256 -40℃~125℃
M330 128 -40℃~125℃
M330H 128 -40℃~125℃
ADVANTEST M6300 256 -40℃~125℃
M6243 256 -40℃~125℃
TECHWING TW312 320 -40℃~125℃
EPSON NS8080HW Single/Dual/Quad/Octal 25℃~135℃
SRM Z248 Single/Dual/Quad/Octal 25℃

Wafer Test

Wafer Test에 필요한 Prober, Laser Repair, Visual Inspecion, Bake 장비를 보유하고 있으며,
Test Program 개발 지원 등 Wafer Test의 모든 서비스를 제공하고 있습니다.

Wafer Test
MAKER MODEL WAFER SIZE TEMPERATURE
ACCRETECH UF3000 8~12 inch -40℃~130℃
ESI 9830 Laser Repair

Back end

테스트 완료된 양품의 제품을 고객의 요구사항에 맞게
Laser Marking, Visaul Inspection, Bake, Packing 등의 서비스를 제공합니다.

Wafer Test
TEST PROCESS MAKER MODEL
Marking SAMIL SLM-27T
LIS ICOS CI-T120
INTEKPLUS IPIS-300
TAPE & REEL HI-Q HQ-8000
BAKE OVEN 1First TSO-250
DUOCOM HS-2954
LCS SAMIL SMC-2700
AUTO FILLING SAMIL FLM-28

SITEMAP

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